044 461 9175 Обратный звонок
Запрос
  • Ваша корзина пуста!

Новый настольный спектрофотометр X-Rite Ci7860

Новый настольный спектрофотометр X-Rite Ci7860
690

Применим в различных отраслях, таких как: лакокрасочная, текстильная промышленность, производство пластиковых изделий и др.

Значение цвета сложно переоценить. Видимые отклонения цвета продуктов и упаковки могут повлиять как на восприятие потребителями качества продукта, так и на его продажи. Поэтому крайне важно выдержать единство цвета от первоначального замысла и дизайна до конечной продукции.

X-Rite Ci7860 сводит к минимуму влияние различий в подходах к измерению и оценке качества цвета и появление отклонений в цветопередаче, тем самым обеспечивает наиболее точное и согласованное управление цветом.

Точность измерений настольного спектрофотометра X-Rite Ci7860 составляет в среднем 0,06 dE, что на 25% улучшение по сравнению с другими спектрофотометрами со сферической геометрией.

В результате Ci7860 позволяет владельцам брендов устанавливать самые строгие стандарты для контроля цвета и передавать их своим партнерам и поставщикам в цифровом виде вместо физических образцов и ненадежных визуальных оценок. Поставщики могут использовать Ci7860 или другие устройства из семейства Ci7x00, чтобы подтвердить, что как образец, так и конечный продукт находятся в пределах допустимых отклонений по цвету, установленных их заказчиками.

Кроме того спектрофотометр X-Rite Ci7860 обеспечивает:

  • Отчет контроля с полной историей всех измерений цвета, позволяющий пользователям сохранять и поднимать информацию обо всех выполенных ранее измерениях, а также температуре и относительной влажности, при которых эти измерения проводились.
  • Поддержка данных от предыдущих моделей приборов, благодаря которой Ci7860 без проблем интегрируется в существующую систему.
  • Калибровка по УФ-освещению, помогающая измерять и контролировать оптическое отбеливание, используемое в бумажной, текстильной промышленности, пластиках и лакокрасочной промышленности.
  • Четыре размера апертуры для измерения полупрозрачных и прозрачных образцов на просвет.
  • Четыре стандартных плюс одна опциональная 3,5 мм апертура для измерения непрозрачных материалов на отражение.
  • Полное соответствие промышленным стандартам, включая CIE No 15, ASTM D1003, ISO 7724/1.

Контакт: Максим Букасов, (044) 495 2090, [email protected]

11 Августа, 2017